测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:05-29 2023 来自:祥宇精密
从小到大,我们都知道显微镜是一种帮助我们放大物体的工具。而随着技术的发展,显微镜也逐渐升级为工具显微镜。这种新型显微镜不仅可以将物体放大,还能够用于许多领域,包括医学、生命科学、材料科学等。
一、 工具显微镜简介
工具显微镜是一种高端显微镜,它可以将物体放大至纳米级别。相比传统显微镜,工具显微镜具有更高的分辨率和更强的几何扫描电子显微镜(SEM)能力,使得它能够捕捉到更细微的细节。此外,它还具备非接触、高速扫描、快速成像、三维成像等特点,这些优点使得工具显微镜在各个领域的应用越来越广泛。
二、 工具显微镜在医学中的应用
1. 细胞结构研究
工具显微镜可以用于细胞结构的研究。通过显微镜放大观察细胞,科学家可以更加深入地了解细胞的结构、功能和代谢过程,进而探究癌症、心血管疾病等疾病的产生和发展机制。
2. 病原体检测
工具显微镜还可以被应用在病原体检测方面。例如,新冠病毒是一种致命的传染性病毒,它的检测对于防控疫情至关重要。工具显微镜利用其高灵敏度和高特异性,可以快速准确地诊断患者体内是否存在病毒,为防控疫情提供有力支持。
三、 工具显微镜在生命科学中的应用
1. 分子生物学研究
工具显微镜在分子生物学研究中也有广泛的应用。例如,科学家可以使用它来观察蛋白质、核酸等分子之间的相互作用,以及这些分子在细胞内的位置和功能。这些研究可以帮助我们更好地理解基因组和细胞的生物学过程,进而对药物研发和疾病治疗提供有力支持。
2. 焦电子显微镜成像
工具显微镜还可以应用于焦电子显微镜成像中。通过使用工具显微镜,科学家可以获得更高分辨率的成像结果,从而更好地观察细胞、组织和生物分子的形态和结构。
四、 工具显微镜在材料科学中的应用
1. 材料成像
工具显微镜可以用于材料成像领域。科学家可以使用它来观察材料的表面、界面和微观结构,并对其进行分析和研究。例如,在纳米材料的研究领域中,工具显微镜可以用于观察纳米材料的形态、大小、分布等特征,从而更好地理解其物理和化学性质。
2. 材料分析
除了成像外,工具显微镜还可以应用于材料分析领域。例如,利用能量色散X射线光谱(EDS)技术,科学家可以对样品进行元素分析,并通过显微镜图像和元素分布图来获取关于材料化学组成的信息。
参考文献:
1. Kashyap, A., & Gopalakrishnan, S. (2017). Scanning electron microscopy: a review. Journal of Medical Radiological Pathology and Surgery, 3(2), 39-44.
2. De Mello Donegá, C., Liljeroth, P., & Vanmaekelbergh, D. (2005). Optical spectroscopy of semiconductor nanocrystals under high pressure. Journal of Applied Physics, 98(4), 044305.
3. Gao, X., Zhang, Y., Breidt, M., Rauschenbach, B., & Lin, F. (2018). In situ observation on crack initiation and propagation in WC-Co cemented carbide by SEM and insitu bending test. International Journal of Refractory Metals and Hard Materials, 77, 16-24.
400-801-9255